DIN IEC 60747-11-1992 半导体器件.第11部分:半导体器件分规范
作者:标准资料网 时间:2024-05-25 06:59:22 浏览:9155
来源:标准资料网
下载地址: 点击此处下载
【英文标准名称】:Semiconductordevices;sectionalspecificationforsemiconductordevices;identicalwithIEC60747-11:1985
【原文标准名称】:半导体器件.第11部分:半导体器件分规范
【标准号】:DINIEC60747-11-1992
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1992-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质量;电子工程;测量方法;质量评定系统;集成电路;试验;组件;规范;半导体器件;分规范;作标记;测量;元部件;规范(验收);电气工程;电子设备及元件;检验;半导体;质量评定
【英文主题词】:
【摘要】:ThestandardcontainsthesectionalspecificationfordiscretesemiconductordeviceswithintheIEC-qualityassessmentsystemforelectronicdevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语
【原文标准名称】:半导体器件.第11部分:半导体器件分规范
【标准号】:DINIEC60747-11-1992
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1992-04
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:质量;电子工程;测量方法;质量评定系统;集成电路;试验;组件;规范;半导体器件;分规范;作标记;测量;元部件;规范(验收);电气工程;电子设备及元件;检验;半导体;质量评定
【英文主题词】:
【摘要】:ThestandardcontainsthesectionalspecificationfordiscretesemiconductordeviceswithintheIEC-qualityassessmentsystemforelectronicdevices.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:德语
下载地址: 点击此处下载