SJ/T 10745-1996 半导体集成电路机械和气候试验方法
作者:标准资料网 时间:2024-05-21 06:09:59 浏览:8307
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基本信息
| 标准名称： | 半导体集成电路机械和气候试验方法 |
| 英文名称： | Mechanical and climatic test methods for semiconductor integrated circuits |
| 中标分类： | 医药、卫生、劳动保护 >> 医药、卫生、劳动保护综合 >> 技术管理 |
| ICS分类： | 电子学 >> 集成电路、微电子学 |
| 替代情况： | 原标准号GB 4590-84 |
| 发布日期： | 1996-11-20 |
| 实施日期： | 1997-01-01 |
| 首发日期： | 1900-01-01 |
| 作废日期： | 2010-01-20 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 49页 |
适用范围
没有内容
前言
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目录
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引用标准
没有内容
所属分类： 医药 卫生 劳动保护 医药 卫生 劳动保护综合 技术管理 电子学 集成电路 微电子学
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